亚纳米级高分辨率扫描电子显微镜

描述

蔡司代理三本精密仪器小编介绍扫描电镜的分辨率取得了重大进步,已进入亚纳米级,这在很大程度上归功于硬件的改进,如更亮的场发射电子源,更好的电子光学设计(如单色器、像差矫正和减速技术等),更高效的探测器,以及更好的真空和更稳定的样品台。分辨率提升的效果显而易见,但是也通常伴随着复杂性和成本的显著增加。

 

从电子光学上考量,硬件进步的基本原理是持续减小束斑以带来更好的分辨率,同时不过于牺牲束流。为获得更好的信噪比,有时还要增加累计时间。但这些措施仍有许多限制。首先,亮度方程反映出的束流和束斑的矛盾没有得到根本解决,束流本身也难以同时兼顾衬度阈值和分辨率。其次,当面对生物样品等电子束敏感样品时,通过增加驻留时间来改善图像的信噪比的做法可能导致样品漂移,污染和损伤。

 

基于软件的技术可以提供一种提高分辨率的策略,这种方法降低了对硬件和成本的要求,在未来可能会受到更广泛的关注。此外,算法的进步和计算能力的大幅提高,基于软件的方法也比过去更为实用。

 

在电子光学中,理想物点尺寸因衍射及其他像差的存在而扩展,再考虑到电子束与样品作用后各种信号溢出后的空间分布,这些因素导致信号电子分布在一个较广的范围,而不再单纯反映局域的信息。当信号电子的空间分布远超出样品像素大小,这会导致图像中严重的像素重叠和模糊。

显微镜亚纳米级高分辨率扫描电子显微镜

从光学和信息论的角度看,这些造成模糊的因素可以被视为点扩散函数(Point spread function,PSF)。当相平面没有任何样品时,PSF可以被认为是垂直于电子束轴的聚焦面上电子的空间分布;当测试样品时,再将形貌因素、信号电子的溢出区和空间分布考虑进去,得到电子束的空间分布曲线。所以PSF跟电子光学系统和样品都有关。

 

PSF方法结合贝叶斯方法可以在锐化图像的同时不引入伪像。图像的修复降低了成像对束斑的要求,大束斑也可以形成清晰的图像。通过图像修复,碳膜上金纳米颗粒在低加速电压非减速模式时,可以实现减速模式或者高加速电压的图片效果。

 

PSF并结合去卷积的方法,提高各种类型电镜的背散射电子、二次电子和透射电子图像的分辨率和质量,同时还能够将像散和离焦的图像进行修复。加之电镜图像是数字化形式处理和存储的,可以选择数字图像处理技术降低噪声。

 

在某些条件下,光镜和透射电镜的PSF受影响因素较少,可以较简单地从成像过程的物理定律中算出。但是由电子在样品内部的多次散射,在扫描电镜中确定点扩展函数的困难还很大。文献中的成功应用还较少地局限在形貌和成分较简单的样品中。而且,现在图像修复的应用案例还较少,修复的方法较繁琐,算法还有很大提升空间。
 

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