在si ( 111)衬底上分别预沉积0,0.1,o.5,1 nm厚度的In插入层后,采用等离子辅助分子束外延法制备了纤锌矿结构的I nN材料,结合x射线衍射(XRD) 、扫描电子显微镜(SEM) 、吸收谱及光致发光谱研究了不同厚度的I n插入层对外延I nN晶体质量和光学特性的影响。XRD和SEM的测试结果表明,在si 衬底上预沉积O.5 nm厚的I n插入层有利于改善外延I nN材料的形貌,提高材料的晶体质量。吸收谱和光致发光谱测试表明,0.5 nm厚I n插入层对应的I nN样品吸收边蓝移程度最小,光致发射谱半峰宽最窄,并且有最高的带边辐射复合发光效率。可见,引入适当厚度的I nN插入层可以改善Si衬底上外延InN材料的晶体质量和光学特性。
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