随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展,电路板的常规测试方式面临挑战。介绍了边界扫描技术及边界扫描测试的基本原理,提出了一种基于边界扫描技术的测试系统方案及其实现,并着重介绍了JTAG总线控制器的设计。
边界扫描测试的物理基础是IEEEll49.1测试总线和设计在集成电路内的边界扫描结构。集成电路边界结构示意图如图1所示。
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